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README

测试打点

介绍

本示例展示了在eTS中如何获取应用故障相关信息,测试打点包括应用打点与性能打点两部分,应用打点通过调用hiAppEvent接口来记录应用运行过程中发生的各种信息。

效果预览

主页

使用说明

1.点击"事件写入"按钮,显示成功写入事件。

2.打开"禁用应用打点"开关,再次点击"事件写入"按钮,显示事件写入失败。

3.关闭"禁用应用打点"开关,再次点击"事件写入"按钮,显示事件写入成功。

工程目录

entry/src/main/ets/
|---entryAbility
|   |---EntryAbility.ts
|---model
|   |---Logger.ts                      // 日志工具
|---pages
|   |---DotTestPage.ets                // 首页

具体实现

  • 该示例使用hiAppEvent接口中write方法将事件写入到当天的事件文件中,EventType方法枚举事件类型,configure方法去配置打点开关来实现测试打点。
  • 源码链接:DotTestPage.ets
  • 接口参考:@ohos.hiviewdfx.hiAppEvent

相关权限

不涉及。

依赖

不涉及。

约束与限制

1.本示例仅支持在标准系统上运行。

2.性能打点验证只能通过上述命令获取日志来进行验证。

3.本示例已适配API version 9版本SDK,版本号:3.2.11.9。

4.本示例需要使用DevEco Studio 3.1 Beta2 (Build Version: 3.1.0.400 构建 2023年4月7日)及以上版本才可编译运行。

下载

如需单独下载本工程,执行如下命令:

git init
git config core.sparsecheckout true
echo code/BasicFeature/DFX/DotTest/ > .git/info/sparse-checkout
git remote add origin https://gitee.com/openharmony/applications_app_samples.git
git pull origin master