{

    "bmc.kepler.Debug.DataAcquisitionService": {

        "methods": {

            "SetConfigurations": {

                "description": "数据采集组件参数配置项",

                "req": {

                    "CfgType": {

                        "baseType": "String",

                        "description": "选择的配置类型(如：TestIODeterioration:使用导入的json文件触发慢盘检测、TestEstimatedLifespan:使用导入的json文件模拟获取硬盘参数触发预估寿命检测流程等)，为调试命令，仅在调试时使用"

                    },

                    "CfgValue": {

                        "baseType": "String",

                        "description": "设置配置信息（如：json文件路径），为调试命令，仅在调试时使用"

                    }

                },

                "rsp": {

                    "Result": {

                        "baseType": "S32",

                        "description": "配置信息设置结果，为调试命令，仅在调试时使用，0:设置成功 -1:设置失败"

                    }

                }

            }

        }

    }

}