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weixin_47438185weixin_47438185Debug、DotTest、FaultLogger、CustomHaptic、DeviceUsageStatistics死链修复
822c4226创建于 2024年3月14日历史提交
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AppScope
IssueNo: #I69ZWE:DotTest升级Stage模型 Description: DotTest Upgrade Stage Model Sig: SIG_applications_app_samples Feature or Bugfix: Feature Binary Source: No Signed-off-by: mashitao2 <mashitao2@huawei.com> 3 年前
entry
修复失效链接、删除package.json Signed-off-by: zwx1126739 <zhanghong121@huawei.com> 2 年前
hvigor
AbilityStartMode、RPC、DotTest、FaultLogger、Http、ScreenDetector迁移 Signed-off-by: yeyedeshen <yangxin181@huawei.com> 3 年前
screenshots
IssueNo: #I69ZWE:DotTest升级Stage模型 Description: DotTest Upgrade Stage Model Sig: SIG_applications_app_samples Feature or Bugfix: Feature Binary Source: No Signed-off-by: mashitao2 <mashitao2@huawei.com> 3 年前
.gitignore
!2255 【0230】code目录下代码适配 part.1+2+3 * code目录下代码适配 part.3 * code目录下代码适配 part.2 * code目录下代码适配 part.1 Signed-off-by: sunwenxu <sunwenxu1@huawei.com> 3 年前
README_zh.md
Debug、DotTest、FaultLogger、CustomHaptic、DeviceUsageStatistics死链修复 Signed-off-by: yeyedeshen <yangxin181@huawei.com> 2 年前
build-profile.json5
revert sdk version 10->9 Signed-off-by: sunwenxu <sunwenxu1@huawei.com> 3 年前
hvigorfile.ts
IssueNo: #I69ZWE:DotTest升级Stage模型 Description: DotTest Upgrade Stage Model Sig: SIG_applications_app_samples Feature or Bugfix: Feature Binary Source: No Signed-off-by: mashitao2 <mashitao2@huawei.com> 3 年前
hvigorw
AbilityStartMode、RPC、DotTest、FaultLogger、Http、ScreenDetector迁移 Signed-off-by: yeyedeshen <yangxin181@huawei.com> 3 年前
hvigorw.bat
AbilityStartMode、RPC、DotTest、FaultLogger、Http、ScreenDetector迁移 Signed-off-by: yeyedeshen <yangxin181@huawei.com> 3 年前
oh-package.json5
AbilityStartMode、RPC、DotTest、FaultLogger、Http、ScreenDetector迁移 Signed-off-by: yeyedeshen <yangxin181@huawei.com> 3 年前
ohosTest.md
add FaultLogger,CustomCommonEvent,DotTest test Signed-off-by: guojin31 <guojin31@huawei.com> 3 年前
README_zh.md

测试打点

介绍

本示例展示了在eTS中如何获取应用故障相关信息，测试打点包括应用打点与性能打点两部分，应用打点通过调用hiAppEvent接口来记录应用运行过程中发生的各种信息。

效果预览

主页

使用说明

1.点击"事件写入"按钮，显示成功写入事件。

2.打开"禁用应用打点"开关，再次点击"事件写入"按钮，显示事件写入失败。

3.关闭"禁用应用打点"开关，再次点击"事件写入"按钮，显示事件写入成功。

工程目录

entry/src/main/ets/
|---entryAbility
|   |---EntryAbility.ts
|---model
|   |---Logger.ts                      // 日志工具
|---pages
|   |---DotTestPage.ets                // 首页

具体实现

  • 该示例使用hiAppEvent接口中write方法将事件写入到当天的事件文件中，EventType方法枚举事件类型，configure方法去配置打点开关来实现测试打点。
  • 源码链接：DotTestPage.ets
  • 接口参考：@ohos.hiviewdfx.hiAppEvent

相关权限

不涉及。

依赖

不涉及。

约束与限制

1.本示例仅支持在标准系统上运行。

2.性能打点验证只能通过上述命令获取日志来进行验证。

3.本示例已适配API version 9版本SDK，版本号：3.2.11.9。

4.本示例需要使用DevEco Studio 3.1 Beta2 (Build Version: 3.1.0.400 构建 2023年4月7日)及以上版本才可编译运行。

下载

如需单独下载本工程，执行如下命令：

git init
git config core.sparsecheckout true
echo code/BasicFeature/DFX/DotTest/ > .git/info/sparse-checkout
git remote add origin https://gitee.com/openharmony/applications_app_samples.git
git pull origin master