事件分发

概述

事件分发是指ArkUI收到用户操作生成的触控事件,通过触摸测试,将触控事件分发至各个组件形成事件的过程。

触控事件按照输入设备类型可以划分为finger(手指在屏幕滑动)、mouse(鼠标操作)、touchpad(触控板操作)、pen(手写笔在屏幕滑动)、joystick(手柄操作)等;按照事件类型可以划分为按下、移动、滚动等;系统会根据触控事件的坐标、类型等信息,结合UI布局,将事件发送给对应UI组件。多个事件可以组合触发手势或其他功能(长按、点击、拖拽)。

触摸测试

触摸测试是指当ArkUI收到了Touch类触控事件或者Mouse类触控事件的起始事件(如手指或者鼠标光标按下时生成的事件),基于所收到的事件的坐标,进行组件响应区域的测试判定并收集事件响应链的过程。

开发者可以通过设置以下属性影响触摸测试流程:

  • hitTestBehavior:触摸测试控制

  • interceptTouch:事件自定义拦截

  • responseRegion:触摸热区设置

  • enabled:禁用控制

  • 安全组件

  • 其他属性设置:透明度/组件下线

触摸测试基本流程

TouchTest

触摸测试的基本流程如下:接收到起始事件后,系统将自上而下、自右向左遍历组件树,收集每个组件上绑定的手势和事件,然后将这些信息逐级向上冒泡至父组件进行整合,最终构建完整的事件响应链。

如图所示,当起始事件被分发至组件时,组件会收集自身绑定的手势与事件,随后将收集结果传递给父组件,直至达到根节点。若组件透明、已从组件树中移除,或事件坐标不在组件响应热区范围内,将不会触发收集过程,父组件接收的反馈为空。除此之外,所有组件均会执行手势与事件的收集,并将结果反馈给父组件。

触摸测试控制

在组件上绑定触摸测试控制时,可能会影响到兄弟节点以及父子节点的触摸测试。子组件对父组件的触摸测试影响程度,取决于最后一个未被阻塞触摸测试的子组件状态。

开发者可以通过配置触摸测试控制,来实现阻塞组件自身或其他组件的触摸测试。

  • HitTestMode.Default:默认不配hitTestBehavior属性的效果,自身如果命中会阻塞兄弟组件,但是不阻塞子组件。

    hitTestModeDefault

  • HitTestMode.None:自身不接收事件,但不会阻塞兄弟组件/子组件继续做触摸测试。

    hitTestModeNone

  • HitTestMode.Block:阻塞子组件的触摸测试,如果自身触摸测试命中,会阻塞兄弟组件及父组件的触摸测试。

    hitTestModeBlock

  • HitTestMode.Transparent:自身进行触摸测试,同时不阻塞兄弟组件及父组件。

    hitTestModeTransparent

自定义事件拦截

当用户执行按下操作时,将触发组件上绑定的自定义事件拦截的回调。开发者可根据应用状态,动态调整组件的hitTestBehavior属性,进而影响触控测试的流程。

禁用控制

设置了禁用控制的组件,组件自身和其子组件不会发起触摸测试过程,会直接返回组件的父组件继续触摸测试。

触摸热区设置

触摸热区设置会影响触屏/鼠标类的触摸测试。根据触摸测试的基本流程,仅当事件的坐标命中组件的触摸热区时,该组件绑定的手势和事件才会被收集并进入事件响应链。开发者可以通过调整组件的触摸热区来控制触摸测试流程。若触摸热区被设置为0,或定义为不可触控区域,事件将直接回传给父节点,以进行后续的触摸测试。

安全组件

ArkUI包含的安全组件有:使用粘贴组件使用保存组件等。

安全组件当前对触摸测试影响:如果有组件的z序比安全组件的z序靠前,且遮盖安全组件,则安全组件事件直接返回到父节点继续触摸测试。

事件响应链的收集

事件响应链为触摸测试的结果。ArkUI事件响应链收集,遵循右子树(按组件布局的先后层级)优先的后序遍历。伪代码实现为:

foreach((item, node.rbegin(),node.rend())=> {
    item.TouchTest();
})
node.collectEvent()

事件响应链收集举例:按下图的组件树,hitTestBehavior属性均为默认,用户点按的动作如果发生在组件5上,则最终收集到的响应链,以及先后关系是5,3,1。

因为组件3的hitTestBehavior属性为Default,收集到事件后会阻塞兄弟节点,所以没有收集组件1的左子树。

EventResponseChain