该项目深入解析了DFT OCC电路的设计与实现，重点介绍了DFT_clk_mux与DFT_clk_chain模块在芯片测试中的关键作用。DFT_clk_mux负责在扫描测试期间灵活切换时钟源，而DFT_clk_chain则通过控制捕获脉冲确保数据的准确锁定。两个模块协同工作，为芯片测试提供了高效的时钟控制与数据捕获机制。文档详细阐述了模块的功能、实现原理及注意事项，为芯片测试工程师提供了宝贵的参考，有助于提升芯片制造过程中的质量与功能完整性。
该项目深入解析了DFT OCC电路的设计与实现，重点介绍了DFT_clk_mux与DFT_clk_chain模块在芯片测试中的关键作用。DFT_clk_mux负责在扫描测试期间灵活切换时钟源，而DFT_clk_chain则通过控制捕获脉冲确保数据的准确锁定。两个模块协同工作，为芯片测试提供了高效的时钟控制与数据捕获机制。文档详细阐述了模块的功能、实现原理及注意事项，为芯片测试工程师提供了宝贵的参考，有助于提升芯片制造过程中的质量与功能完整性。